Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials

La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a p...

ver descrição completa

Detalhes bibliográficos

Outros Autores:	Khodaei Mehdi, Petaccia Luca, InTech.
Formato:	Livro
Idioma:	English
Assuntos:	Nanociencia Nanotecnologa̕ TecnologƯ̕a de los materiales Materiales Rayos X Nanoscience Nanotechnology Materials engineering Materials X-ray nanomateriales ciencia de los materiales nanomaterials materials science
Acesso em linha:	Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials
Tags:	Adicionar Tag Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!