Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials
La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a p...
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| Rochtain Ar Líne: | Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials |
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