Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials
La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a p...
Uloženo v:
Další autoři: | , , |
---|---|
Médium: | Kniha |
Jazyk: | English |
Témata: | |
On-line přístup: | Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials |
Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|