Caracterización por difracción de rayos X de heteroestructuras de semiconductores III-v : aplicación al diseno de superredes tensadas para epitaxias de GaAs/Si /
Esta tesis doctoral presenta resultados experimentales de caracterización de heeroestructuras de semiconductores III-V crecidos sobre substratos de GaAs por MBE. Se presenta una descripción completa de la difracción de rayos X como herramienta de caracterización de materiales. Se ha aplicado a d...
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| Corporate Author: | |
| Format: | eBook |
| Language: | Spanish |
| Published: |
Madrid :
Universidad Complutense de Madrid,
1992.
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| Subjects: | |
| Online Access: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/103228 |
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