Toon
1 - 3
resultaten van
3
Voor zoekopdracht '
'
Ga door naar de inhoud
Toggle navigation
Solicitud de Usuario
Taal
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
Wis alle filters
Taal:
English
Auteur:
University of Defence
AND
Neděla V.
Wis alle filters
Toon filters (3)
Taal:
English
Auteur:
University of Defence
AND
Neděla V.
Zoeken:
Gesuggereerde onderwerpen binnen jouw zoekopdracht.
Gesuggereerde onderwerpen binnen jouw zoekopdracht.
Electron microscopy
3
Microscopia electrn̤ica
3
Alta presin̤
2
CAE
2
High pressure
2
SolidWorks
2
Ansys
1
meer ...
Apertura
1
Aperture
1
CFD
1
Cinťica
1
Cm̀ara de bombeo diferencial39-46
1
Cosmos
1
Detector de centelleo de electrones
1
Differentially Pumped Chamber
1
Digital computer simulation
1
Dinm̀ica de fluidos
1
EREM
1
ESEM
1
Espectrometra̕ de rayos gamma
1
FEI
1
Fluid dynamics
1
Fluid mechanics
1
Gamma ray spectrometry
1
Gamma rays
1
Kinetics
1
Laval nozzle
1
Mach number
1
Mecǹica de fluidos
1
Rayos gamma
1
minder ...
Toon
1 - 3
resultaten van
3
Voor zoekopdracht '
'
, zoektijd: 0,02s
Verfijn jouw resultaten
Sorteren
Relevantie
Datum Aflopend
Datum Oplopend
Plaatsingsnummer
Auteur
Titel
1
Apertures with Laval Nozzle and Circular Orifice in Secondary Electron Detector for Environmental Scanning Electron Microscope
Plaatsingsnummer:
Wordt geladen...
Locatie:
Wordt geladen...
Apertures with Laval Nozzle and Circular Orifice in Secondary Electron Detector for Environmental Scanning Electron Microscope
Boek
Toevoegen aan favorieten
Bewaard in:
2
Analysis of Gas Flow in a Secondary Electron Scintillation Detector for ESEM with a New System of Pressure Limiting Apertures
Plaatsingsnummer:
Wordt geladen...
Locatie:
Wordt geladen...
Analysis of Gas Flow in a Secondary Electron Scintillation Detector for ESEM with a New System of Pressure Limiting Apertures
Boek
Toevoegen aan favorieten
Bewaard in:
3
The Impact of Critical Flow on the Primary Electron Beam Passage through Differentially Pumped Chamber
Plaatsingsnummer:
Wordt geladen...
Locatie:
Wordt geladen...
The Impact of Critical Flow on the Primary Electron Beam Passage through Differentially Pumped Chamber
Boek
Toevoegen aan favorieten
Bewaard in:
Zoekinstrumenten:
Abonneren op RSS-datastromen
—
Zoekopdracht versturen
—
Sla zoekopdracht op
Terug
Verfijnd zoeken
Instelling
VirtualPro
3
Bibliotheek
VirtualPro
3
Formaat
Boek
3
Auteur
Maxa J.
3
Neděla V.
University of Defence
Hladk ̀K.
2
Jirk̀ J.
2
Vyroubal P.
2
Taal
English
×
Wordt geladen...