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Acces Engineering
Autor:
Lau, John H.
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Interconnects (Integrated circuit technology)
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Formato:
Recurso Electrónico
Fonte:
Acces Engineering
Autor:
Lau, John H.
Sugestões de Tópicos:
Interconnects (Integrated circuit technology)
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Green technology
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Interconnects (Integrated circuit technology)
Reliability
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1
Reliability of RoHS-Compliant 2D and 3D IC interconnects
Por
Lau, John H.
Publicado em 2011
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Acces Engineering
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Fonte
Acces Engineering
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Recurso Electrónico
livro electrónico
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Área/Cota
T - Technology
1
Autor
Lau, John H.
Idioma
English
1
Tipo
Electronic books
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