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Lasprilla, M. C.
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Lasprilla, M. C.
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Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos
por
Rueda P., J. E.
Publicado em 2006
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Área/Cota
Q - Ciência
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Autor
Lasprilla, M. C.
Rueda P., J. E.
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Spanish
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Gênero
Libros electrónicos
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