Journal of electronic testing

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר תאגידי: IEEE Computer Society. Technical Council on Test Technology.
פורמט: אלקטרוני כתב-עת
שפה:English
יצא לאור: [Dordrecht] : Kluwer Academic Publishers, ©1990-
[Dordrecht] : Springer Netherlands
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available from Engineering Database: 02/01/1997 to 1 year ago
Full text available from Science Database: 02/01/1997 to 1 year ago
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!